Главное меню
Вы здесь
ГОСТ 8.171-75
ГОСТ 8.171-75
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
| Обозначение: | ГОСТ 8.171-75 |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия |
| Название англ.: | State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications |
| Дата введения в действие: | 1977-01-01 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв |
| Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75 от 1992-01-01 (текст интегрирован в текст или описание стандарта) | |
| Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75 от 1981-03-01 (текст интегрирован в текст или описание стандарта) | |
| Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75 от 1987-07-01 (текст интегрирован в текст или описание стандарта) |
Ссылка на скачивание появится через 15 секунд.
Все материалы и ссылки, расположенные на сайте, размещены исключительно в ознакомительных и образовательных целях посетителей сайта.
Владельцы сайта не несут ответственности за их достоверность и содержание.
Все замечания и предложения можно отправлять на