Обозначение: |
ГОСТ 26239.7-84 |
Название рус.: |
Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота |
Название англ.: |
Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination |
Дата введения в действие: |
1986-01-01 |
Область и условия применения: |
Настоящий стандарт устанавливает метод определения кислорода, углерода и азота в полупроводниковом кремнии с использованием активации ускоренными ионами и протонами |
|
Изменение №1 к ГОСТ 26239.7-84 от 1991-01-01 (текст интегрирован в текст или описание стандарта) |