ГОСТ 26239.5-84

Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Обозначение:	ГОСТ 26239.5-84
Название рус.:	Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название англ.:	Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата введения в действие:	1986-01-01
Область и условия применения:	Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
	Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84 от 1991-01-01 (текст интегрирован в текст или описание стандарта)

Ссылка на скачивание появится через 15 секунд.