ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Обозначение:	ГОСТ 8.593-2009
Название рус.:	Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Название англ.:	State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification
Дата введения в действие:	2010-11-01
Область и условия применения:	Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592

Ссылка на скачивание появится через 15 секунд.