| Обозначение: | ГОСТ 26239.7-84 |
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый. Метод определения кислорода, углерода и азота |
| Название англ.: | Semiconductor silicon. Method of oxygen, carbon and nitrogen determination |
| Дата введения в действие: | 1986-01-01 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает метод определения кислорода, углерода и азота в полупроводниковом кремнии с использованием активации ускоренными ионами и протонами |
| Изменение №1 к ГОСТ 26239.7-84 от 1991-01-01 (текст интегрирован в текст или описание стандарта) |