| Обозначение: | ГОСТ 26239.1-84 |
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей |
| Название англ.: | Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. Method of impurities determination |
| Дата введения в действие: | 1986-01-01 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод определения примесей в интервалах значений массовых долей в полупроводниковом кремнии, двуокиси кремния, кварце, четуреххлористом кремнии и трихлорсилане |
| Изменение №1 к ГОСТ 26239.1-84 от 1991-01-01 (текст интегрирован в текст или описание стандарта) |